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標準測試插座

低成本，高性能，芯片量產(chǎn)測試標準插座

產(chǎn)品優(yōu)勢

  • 顯著的接觸電阻穩(wěn)定性

  • 超長的生產(chǎn)使用壽命

  • 標準化設計，簡單耐用，成本最優(yōu)

  • 適用所有封裝類型

  • 精準的產(chǎn)品定位方式

  • 適用于手測，機測，老化等多種測試方式

  • 最短的產(chǎn)品設計，生產(chǎn)周期

CAPTAN標準測試插座



FTD標準最優(yōu)設計與標準材質(zhì)，提供最優(yōu)的測試性能
WLCSP，BGA，QFN，QFP多種封裝
0.35mm引腳間距 
優(yōu)化的定位框設計
出色的接觸電阻和電流承受能力
三溫測試能力(-55℃-150℃)

封裝類型

球陣列封裝 BGA，LGA，WCSP，其他0.35mm及以上引腳間距

引腳類封裝：QFP，SO，其他0.35mm及以上引腳間距

無引腳封裝：QFN，其他0.35mm及以上引腳間

材料

Socket材料：Vespel SP-1， Plavis-N，MDS-100，and Peek ceramic，其它客戶指定的工程塑料

彈簧探針頭材料：合金，金及其他

彈簧材料：彈簧鋼及其他

機械性能

產(chǎn)品引腳間距0.35mm及以上

探針彈力：15g-40g

測試行程：0.3mm-0.65mm

可靠性

探針使用壽命：500K-1KK

測試插座使用壽命：>5KK

清潔頻率：50K-100K

電性能

接觸電阻：50mΩ

電流承載能力：5A持續(xù)電流

頻寬：>20GHZ@-1dB

電感：1.2nH

環(huán)境

溫度范圍：-55℃-150℃